Langer(Langer EMV-Technik)

德国 Langer 干扰发射和抗干扰EMC测量技术以及IC测试系统，Langer EMV-Technik 处于 EMC 领域研究、开发和生产的前沿。通过EMC实验研讨会和EMC研讨会，为客户提供全面的知识。

Langer 的干扰发射和抗干扰EMC测量技术以及IC测试系统主要用于开发阶段，并在全球范围内需求旺盛。开发用于组装开发 （PCB） 和 IC 开发 （IC） 过程中伴随 EMV 分析的测量设备

Langer EMV-Technik GmbH 提供的个性化可帮助开发人员和设计人员快速找到 IC、器件和模块开发中复杂 EMC 问题的解决方案。开发人员和设计人员利用Langer 的EMC专业知识和测量技术，为模块和IC开发提供了新的视角和更有效的工作策略。

通过实际的实验性 EMC 研讨会和内部活动向客户提供全面的 EMC 专业技能和研究成果。

Langer 主要产品

扫描仪

印刷电路板的抗干扰性

测试及校准工作台

印刷电路板的干扰发射

集成电路测试技术

IC Security

E1抗干扰性开发系统是一套集成电路板开发过程中进行抗干扰分析的 EMC工具系统。采用E1抗干扰开发系统，能够快速精准地定位脉冲群干扰和静电放电干扰的原因（薄弱点），使工程师开发人员能够准确针对薄弱点设计恰当的 EMC措施，并且使用 E1 评估 EMC措施的效果。Langer E1 检测设备的搭建空间小，适宜于在电子元件开发人员的工作场地使用。Langer EMV-Technik E1 用户手册对EMC工作机制以及集成电路板去干扰的基本测量策略作出详细描述。E1 组套包括一个脉冲群干扰和静电放电干扰发生器、九种不同的电场和磁场源、以及其他各类附件。

Langer EMV-Technik XF系列探头包含4个无源磁场探头和3个无源电场探头，用于在电子模块研发阶段进行电场和磁场的测量，覆盖频率范围为30MHz到6GHz。这种探头内置阻抗匹配器，因而与其他探头（如RF型探头）相比在低频区域较不敏感。由于其频率范围宽并包含从很大到很小尺寸的各种探头，因而有着广泛的应用。探头的组合完全按照顾客的需求。

这组试样用于确定强电流高电压下的集成电路的抗脉冲干扰性。与P211和P311相比，这组试样会产生更强的电流和和更高的电压。在对猝发序列或静电放电设备检测时，在设备中使用的集成电路的引脚处存在被衰减的干扰脉冲。Langer EMV-Technik P200/P300系列的试样可以模拟这些被衰减的干扰脉冲，从而在集成电路的工作过程中对每一个引脚进行抗干扰性分析。P200系列试样针对电流耦合的参数需要根据电子元件组中的磁场脉冲耦合原理确定。P300系列试样针对电压耦合的参数需要根据电子元件组中的电场脉冲耦合原理确定。